Скачать файл: Презентацию атомно-силовая микроскопия

Максимальная скорость Максимальная скорость
Время скачивания
~ 3 мин.
~ 2 мин.
Поддержка ускорителей
Мгновенная загрузка
Нет рекламы
Поддержка докачки
Много потоков

Другие файлы по теме презентацию атомно-силовая микроскопия

Атомно - силовая микроскопия

Презентацию атомно-силовая микроскопияСлучайным образом неопределённость импульса p может добавить частице энергии для преодоления барьера, носредняя энергия частицы при этом все равно останется неизменной. Получение, исследование иперспектива использования наночастиц наоснове хитозана игалактоманнана. Туннельный эффект преодоление квантовой частицей потенциального барьера вслучае, прошивка для psp 3008 pb 6 20 когда еёполная энергия (остающаяся при туннелировании неизменной) меньше высоты барьера. Сканирующая туннельная микроскопия Взависимости оттипа регистрируемого взаимодействия между зондом иповерхностью различают сканирующую туннельную (СТМ) иатомно-силовую микроскопию (АСМ). Это иесть дифракционный предел. Вотносительно короткий срок компания изнебольшой группы энтузиастов превратилась вкрупный концерн смировым именем. Например, разработка методов создания кантилеверов столщиной зонда менее 1нм позволит увеличить разрешающую способность микроскопов вплоть доеемаксимума вслучае, когда кончик зонда будет иметь толщину водин атом. Вслучае первой (СТМ) подложка собразцом изонд, сделанный изкакого-либо проводящего металла (например, вольфрама или платины замкнуты вобщую электрическую цепь систочником тока (рис.3 ирегистрируемой величиной является туннельный ток. В качестве зонда АСМ использовалась углеродная нанотрубка Нано-перо 34 Использование АСМ для рассечения хромосомы человека с целью выделения конкретного гена Нано-скальпель 35 Рассечение клеток растения для выделения молекул одного из белков Нано-скальпель 36 Перемещение нанотрубки по поверхности микросхемы Нано-манипулятор 37 Перемещение атомов железа на поверхности. Изображение кантилевера NCS16 полученное в лаборатории МГУ физического факультета.

Сканирующий атомно - силовой микроскоп

Презентацию атомно-силовая микроскопияОднако возможности методов оптической микроскопии небезграничны, ивкакой-то момент все уперлось вфизические ограничения разрешающая способность неможет превзойти 0,2мкм, что связано стак называемым дифракционным пределом. Зачастую воколонаучной прессе можно увидеть статьи оразличных миниатюрных устройствах, микрофабриках или нанороботах, однако описывается это больше сточки зрения научной фантастики. Описание слайда: сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп GPI SРM-300. Второе слагаемое «обменное» отталкивание на малых расстояниях. Использование АСМ для определения основных характеристик наночастиц на основе хитозана и галактоманнана. Туннельный эффект можно объяснить соотношением неопределенностей, которое можно представить ввиде: Данное выражение показывает, что при ограничении квантовой частицы покоординате x (уменьшении неопределенности вположении еёимпульс p становится менее определённым. X Код для использования на сайте: Презентация на тему: Современная зондовая микроскопия. Дипольный момент (вектор) : - Энергия взаимодействия диполь-диполь : Если 1 и 2 параллельны: Если 1 и 2 коллинеарны: Взаимодействия электрических диполей 8, индуцированные диполи в атомах ( дисперсионное взаимодействие ) Флуктуация электронной плотности в одном атоме (образование мгновенного диполя) вызывает соответствующее смещение зарядов и. Скачать эту презентацию, скачать эту презентацию слайда 1, описание слайда: Современная зондовая микроскопия слайда 2, описание слайда: Теоретические основы Обобщенная структурная схема сканирующего зондового микроскопа слайда. Сигналы, полученные вкаждой пробный регеональный экзамен по математике за 7 класс 2014 точке образца, складываются вцельное изображение поверхности. Система обратной связи изменяет положение кантилевера, возвращая его (илазер тоже) в«нулевое» центральное положение. Возможность исследования размеров, структуры, магнитных иэлектрических свойств объектов сделала данные методы важной частью современной микро- инаноэлектроники. СЭМ - изображение пластовой породы: Пора Кварцевая песчинка 43 Поведение молекул ПАВ на поверхности кварца Taken from: Velegol.

Презентация на тему: "Лекционный курс «Физические основы измерений и эталоны»

Схема работы сканирующего туннельного микроскопа слайда 6, описание слайда: Режимы работы СТМ: а - в режиме постоянной высоты; б - в режиме постоянного тока слайда. сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп. Концепция ипредпосылки для разработки методов сканирующей зондовой микроскопии появились еще в1960-х годах. Использование квантовых точек открывает возможности для миниатюризации полупроводниковых устройств иснижения ихэнергопотребления засчет уменьшения количества электронов, используемых для переноса заряда, ссотен тысяч (всовременных транзисторах) доочень небольшого числа. Российские нанотехнологии6 (12 1823; Wong.L., PawinG., Kwon.Y., LinX., JiaoT., SolankiU., Fawcett.H., BartelsL., StolbovS., Rahman.S. Выше перечислены лишь немногие извозможных улучшений метода, позволяющих расширить его возможности. Микроскопический зонд сближается с поверхностью до установления между зондом и образцом баланса взаимодействий определенной природы, после чего осуществляется сканирование. АСМ используется для изучения действия различных лекарств или изменения внешних условий наклетки; нарисунке 11приводится изображение симпатической нервной клетки человека. Справа изображение сканирующей туннельной микроскопии углеродной нанотрубки. Одним из таких методов является сканирующая зондовая микроскопия, которая с каждым годом находит все большее примение не только в материаловедении, но и при исследовании самых разных биологических объектов. Если провести параллель систорией, томожно сказать, что СЗМ открыла ученым, доэтого пользовавшимся «рисунками» молекул, мир фотографии наатомарном уровне, как это случилось вначале XIX века вмакромире. Заэту работу они были удостоены в1986 году Нобелевской премии пофизике (рис.1). В СТМ-изображение единичной молекулы пентацена. Описание слайда: Сканирующие зондовые микроскопы Общей чертой всех сканирующих зондовых микроскопов является способ получения информации о свойствах исследуемой поверхности. Взависимости отрегистрируемого сигнала различают сканирующую туннельную микроскопию (сигнал туннельный ток между зондом ипроводящей поверхностью) и атомно-силовую микроскопию (сигнал силы молекулярных взаимодействий). Исследование методом АСМ антибактериального действия биополимера хитозана наклетки. Уже вскоре СЗМ станет такимже рутинным методом, каким сегодня является оптическая микроскопия, однако фронт работ будет переброшен уже нановый уровень исследований отдельных молекул иатомов. Хорошо видно, что влевом столбце происходит более быстрая гибель клеток (азначит, антибактериальная активность низкомолекулярного хитозана выше). Прекрасной иллюстрацией служит работа американских ученых, которые спомощью сканирующей туннельной микроскопии показали, что молекулы антрахинона, размещенные наочень ровной поверхности, двигаются попрямой презентацию атомно-силовая микроскопия линии испособны переносить ссобой одну или две молекулы СО2 (рис.14).